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Materialuntersuchung

Rasterelektronenmikroskopie (REM) und Mikroanalyse (ESMA/EDX)

 

Abbildung und Vermessung von Strukturen im Mikrobereich  (nm...mm)

  •   Gefügestrukturen, Rauhigkeiten, Porosität, Schichtstrukturen
  •   Charakterisierung von Werkstoffoberflächen
  •   Bruchflächen für Schadstellenanalysen, Korrosion, Haftfestigkeit
  •   Bauelemente der Mikroelektronik und Mikrosystemtechnik
  •   Pulver, Agglomerate, Granulate (Kornform, Korngröße)
  •   Charakterisierung der Verteilung von Füllstoffen (z.B. Glasfasern) in unterschiedlichsten Matrixmaterialien  
  •   Bilddokumentation

 

Qualitative und quantitative chemische Analyse von Werkstoffen und Werkstoffverbunden im Mikrobereich

  •   Qualitative und  quantitative Elementanalyse ab Ordnungszahl Z=6 (Kohlenstoff) bis Z=92 (Uran)
      als Punkt-, Linien- und Flächenanalyse (1 µm²...1 mm²)
  •   Ermittlung von Elementverteilungen und Konzentrationsprofilen (z.B. für Diffusions- und Homogenitätsuntersuchungen)
  •   Untersuchung von Schichtzusammensetzungen
  •   Charakterisierung von Füge- und Verbindungstechniken (Löt-, Schweiß-, Bond- und Klebeverbindungen)
  •   Analyse von Einschlüssen im Mikrobereich
  •   Partikelanalyse (z.B. Verunreinigungen, Restschmutzanalyse)

 

Analyse verschiedener Materialien für Sanierung und Denkmalschutz

  •   Bauwerkstoffe, Holz
  •   Farbpigmentanalyse von Originalanstrichen

 

Lichtmikroskopie (LIM)

Untersuchungen im Auflicht, Durchlicht, polarisierten Licht, Hell- und Dunkelfeld

  •   Anfertigung von metallographischen Schliffen
  •   Vermessung von Strukturen und Schichten im (µm...mm)- Bereich
  •   Untersuchung von Gefügeinhomogenitäten (Rißbildung, Porosität, Einschlüsse)
  •   Metallographische Untersuchungen (Gefüge, Schweiß- und Lötverbindungen, Wärmebehandlung)
  •   Untersuchungen an Leiterplatten zur Kontrolle der galvanischen Prozesse
  •   Anfertigung von Querschliffen von Crimpverbindungen für die Qualitätskontrolle
  •   Anfertigung von fotographischen Dokumenten zur Qualitätssicherung (Fehlerkataloge usw.)

 

Quantitative Gefügecharakterisierung

  •   Quantitative Bestimmung von Gefügeanteilen
  •   Ermittlung von Größen- und Formverteilungen, Orientierungen
  •   Bestimmung stereologischer Kenngrößen
  •   Gussanalyse nach DIN EN ISO 945